光学式物位测量仪表的代表是激光式物位计。与普通光一样，激光也具有光的反射、透射、折射、干涉等特性，此外它还具有以下3个优点:
(1)能量集中，光强度大，因此物位测量范围大，目前已达20m,
(2)激光单色性强，不易受外界光线干扰，能用于强烈阳光及火焰照射条件下的物位测量，甚至在1500℃的熔融物表面(如熔融玻璃)上亦能正常工作。
(3)激光光束散射小，方向性好，定点控制准确度高。
光学式物位计是一种比较古老的料位控制方法。一般只用来进行定点控制，工作方式采用遮断式。这类物位仪表最简单的模式是:发光光源(如灯泡)放在容器的一侧，另一侧相对光源处安装接收器。当料位未达到控制位置时，接收器能够正常接收到光信号。而当料值上升至控制位置时，光路被遮断，接收器接收的信号迅速减小，电子线路检测到信号变化后转化成报警信号或控制信号。
普通光源具有亮度不高、传输距离近、光的单色性差以及易受外界干扰等缺点，所以控制准确度不高。给出激光料位计原理示意图，其工作方式为遮断方式。激光器采用砷化稼半导体为工作介质.经电流激发，调制发出波长为8.4x10-'m的红外光束。光束经过透镜后到达接收器，接收器由硅光敏三极管组成，当接收到激光照射时，光敏元件产生光电流。当有物料挡住光束时，在接收器上形成突变，线路终端愉出脉冲信号，经信号处理电路放大滤波后控制可控硅导通，继电器工作，并发出报w信号。
使用时应注意，粉料在不断升降过程中对透光孔和接收器光敏元件的粘附和堵塞，因此激光料位计通常不宜测量猫性大的料位。
